本發(fā)明的實(shí)施例包括：仿真步驟704，其仿真位置定位系統(tǒng)線圈設(shè)計的響應(yīng)；以及，線圈設(shè)計調(diào)整算法712，其使用所仿真的響應(yīng)來調(diào)整線圈設(shè)計以獲得更好的準(zhǔn)確性。如上所述，位置傳感器遭受許多非理想性。首先，tx線圈所產(chǎn)生的磁場高度不均勻，并且由于這種不均勻性，目標(biāo)和rx線圈之間的間隙允許許多磁通量無法正確地被目標(biāo)屏蔽。另一個效果是，pcb底部上的rx線圈部分比pcb的頂部中的對應(yīng)部分捕獲更少的感應(yīng)磁通量。后，允許與控制器芯片連接的rx線圈的出口也產(chǎn)生可感測的偏移誤差。在線性和弧形傳感器中，還存在在傳感器的端部產(chǎn)生巨大的雜散場的強(qiáng)烈效應(yīng)。這后的效應(yīng)是線性和弧形設(shè)計中大多數(shù)誤差的原因，性能優(yōu)良傳感器線圈廠家拿貨價格。如上所述，線圈設(shè)計的優(yōu)化始于算法700的步驟704中的良好仿真。在迭代中，對算法700的步驟702中所輸入的初始線圈設(shè)計執(zhí)行仿真。根據(jù)一些實(shí)施例，仿真包括在意大利烏迪內(nèi)大學(xué)開發(fā)的渦電流求解算法。具體地，仿真算法的示例使用在以下發(fā)表文章中介紹的邊界積分方法(bim)：，“aboundaryintegralmethodforcomputingeddycurrents1nthinconductorsforarbitrarytopology(任意拓?fù)涞谋?dǎo)體中的渦電流計算的邊界積分方法)”，性能優(yōu)良傳感器線圈廠家拿貨價格，ieee磁學(xué)學(xué)報(transactionsonmagnetics)，第41卷，第3期，性能優(yōu)良傳感器線圈廠家拿貨價格。高速傳感器線圈，無錫東英電子有限公司。性能優(yōu)良傳感器線圈廠家拿貨價格

    根據(jù)法拉第電磁感應(yīng)定律，當(dāng)塊狀導(dǎo)體置于交變磁場或在固定磁場中運(yùn)動時，導(dǎo)體內(nèi)產(chǎn)生感應(yīng)電流，此電流在導(dǎo)體內(nèi)閉合，稱為渦流。電渦流式傳感器，將位移、厚度、材料損傷等非電量轉(zhuǎn)換為電阻抗的變化（或電感、Q值的變化），從而進(jìn)行非電量的測量。一、工作原理電渦流式傳感器由傳感器激勵線圈和被測金屬體組成。根據(jù)法拉第電磁感應(yīng)定律，當(dāng)傳感器激勵線圈中通過以正弦交變電流時，線圈周圍將產(chǎn)生正選交變磁場，是位于蓋磁場中的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生感應(yīng)電流，該感應(yīng)電流又產(chǎn)生新的交變磁場。新的交變磁場阻礙原磁場的變化，使得傳感器線圈的等效阻抗發(fā)生變化。傳感器線圈受電渦流影響時的等效阻抗Z為式中，ρ為被測體的電阻率；μ為被測體的磁導(dǎo)率；r為線圈與被測體的尺寸因子；f為線圈中激磁電流的頻率；x為線圈與導(dǎo)體間的距離。由此可見，線圈阻抗的變化完全取決于被測金屬的電渦流效應(yīng)，分別與以上因素有關(guān)。如果只改變式中的一個參數(shù)，保持其他參數(shù)不變，傳感器線圈的阻抗Z就只與該參數(shù)有關(guān)，如果測出傳感器線圈阻抗的變化，就可以確定該參數(shù)。在實(shí)際應(yīng)用中，通常是改變線圈與導(dǎo)體間的距離x，而保持其他參數(shù)不變，來實(shí)現(xiàn)位移和距離測量。二、等效電路討論電渦流式傳感器時。性能優(yōu)良傳感器線圈廠家拿貨價格空氣傳感器線圈，無錫東英電子有限公司。

    發(fā)射/接收電路102和接收線圈104之間的金屬跡線的連接以及發(fā)射/接收電路102和發(fā)射線圈106之間的金屬跡線的連接，其也對所生成的電磁場有貢獻(xiàn)；金屬目標(biāo)124與安裝有接收線圈104和發(fā)射線圈106的pcb之間的氣隙(ag)；正弦定向線圈112和余弦定向線圈110之間的幅度偏差；來自正弦定向線圈112和余弦定向線圈110的接收信號之間的失配；正弦定向線圈112和余弦定向線圈110中的不同的耦合效應(yīng)。此外，金屬目標(biāo)124和pcb之間的氣隙(ag)與位置確定的準(zhǔn)確性之間存在很強(qiáng)的相關(guān)性。此外，在理想情況下，正弦定向線圈112和余弦定向線圈110的拓?fù)涫抢硐氲娜呛瘮?shù)，但是在實(shí)際設(shè)計中，這些線圈104不是理想的，并且具有若干個通孔，以允許通過使用pcb的兩面將跡線互相盤繞在pcb上。圖3a示出被定向在pcb(為清楚起見，圖3a中未示出)上的正弦定向線圈112。pcb被定位為使得形成正弦定向線圈112的跡線被定位在pcb的頂側(cè)和底側(cè)。在本公開中，對pcb的頂側(cè)或底側(cè)的引用指示pcb的相對側(cè)，并且關(guān)于pcb的定向沒有其他含義。通常，位置定位系統(tǒng)被定位成使得pcb的頂側(cè)面向金屬目標(biāo)124的表面。圖3b示出pcb322的頂側(cè)，在頂側(cè)上形成用于形成發(fā)射線圈106、正弦定向線圈112和余弦定向線圈110的頂側(cè)跡線。

    該仿真已在算法700的步驟704中執(zhí)行。否則，執(zhí)行類似的仿真。在步驟726中，在印刷電路板上物理地產(chǎn)生線圈設(shè)計。在步驟728中，例如利用如圖4a和圖4b所示的定位系統(tǒng)400來測量物理地產(chǎn)生的線圈設(shè)計響應(yīng)。在步驟730中，將來自物理地產(chǎn)生的線圈設(shè)計的測量結(jié)果與來自線圈設(shè)計的仿真結(jié)果進(jìn)行比較。然后，步驟730可以針對其準(zhǔn)確性驗(yàn)證在步驟724中執(zhí)行的仿真。在步驟732中，如果仿真與測量結(jié)果匹配，則算法720進(jìn)行到步驟734，在此線圈設(shè)計已經(jīng)被驗(yàn)證。在步驟732中，如果仿真結(jié)果與物理測量結(jié)果不匹配，則算法720進(jìn)行到步驟736。在步驟736中，如果所執(zhí)行的算法720為對由算法700所產(chǎn)生的線圈設(shè)計的驗(yàn)證，則修改算法700的輸入設(shè)計，并返回算法700。在一些實(shí)施例中，在步驟736中產(chǎn)生錯誤，指示仿真未正確地運(yùn)行，因此仿真自身需要進(jìn)行調(diào)整以便更好地仿真特定位置定位系統(tǒng)中的所有非理想性。在那種情況下，步驟736也可以是模型校準(zhǔn)算法。因此，在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，可以通過迭代地提供當(dāng)前線圈設(shè)計的仿真，然后根據(jù)該仿真修改線圈設(shè)計，直到線圈設(shè)計滿足期望的規(guī)范為止，來產(chǎn)生優(yōu)化的線圈設(shè)計。在一些情況下，作為后一步，將物理產(chǎn)生并測試經(jīng)優(yōu)化的線圈設(shè)計。傳感器線圈線圈，無錫東英電子有限公司。

    對于理解仿真是否正確執(zhí)行以及仿真是否反映設(shè)計中存在的所有非理想性是非常重要的。一旦驗(yàn)證了正確仿真pcb上發(fā)線圈的能力，便可以將現(xiàn)有設(shè)計輸入到算法700的步驟702，并以提高得到的位置定位系統(tǒng)的準(zhǔn)確性(例如，偏差和非線性)的方式進(jìn)行修改。該方法可以在圖7a的步驟704、步驟706、步驟708和步驟712所示的迭代算法中自動完成，并且在步驟704中使用仿真代碼和在步驟712中使用線圈設(shè)計代碼以收斂于優(yōu)設(shè)計。然后可以在eda工具的幫助下，將在步驟710中輸出的經(jīng)改進(jìn)的設(shè)計線圈印刷在pcb上?？梢砸耘c實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有設(shè)計非常相同的方式來實(shí)現(xiàn)全新的設(shè)計。具體地，可以將新設(shè)計輸入到算法700的步驟702，并且可以執(zhí)行算法700以優(yōu)化線圈設(shè)計。然后可以將在算法700的步驟710中輸出的經(jīng)優(yōu)化的線圈設(shè)計輸入到算法720，并且可以實(shí)際產(chǎn)生該設(shè)計以進(jìn)行測試。如上所述，算法720然后可以驗(yàn)證經(jīng)優(yōu)化的線圈設(shè)計的操作。算法700的步驟712中執(zhí)行的線圈設(shè)計工具可用于根據(jù)在步驟704中由仿真工具執(zhí)行的仿真，使用步驟712的線圈設(shè)計工具來設(shè)計pcb上的正弦和余弦的幾何形狀。如算法700所示的用于優(yōu)化線圈設(shè)計的迭代算法包括步驟704中的仿真工具和步驟712中的線圈設(shè)計工具。具體地。耐磨傳感器線圈，無錫東英電子有限公司。定制傳感器線圈廠家供貨

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    發(fā)射線圈106的兩條跡線位于圖上的位置0和位置5處，而接收線圈104被定位在位置0和位置5之間。圖3c示出這些跡線之間的磁場在兩條跡線之間具有小值。圖3c沒有示出由于連接圖3c中所示的兩條跡線并且垂直于圖3c中所示的跡線的兩條跡線而引起的另外的變形(distortion)。圖3d和圖3e還示出可能由發(fā)射線圈106中的位移引起的不準(zhǔn)確性。如圖3d和圖3e所示，發(fā)射線圈106包括位移330，該位移使發(fā)射線圈106產(chǎn)生的磁場變形。來自位移330的雜散場在接收線圈104中產(chǎn)生不平衡。因此，將由于這些特征而產(chǎn)生位置確定的不準(zhǔn)確性。圖4a和圖4b示出可用于評估位置定位系統(tǒng)的校準(zhǔn)和測試設(shè)備400。由于諸如上文所述的那些之類的磁耦合原理的不理想性，可以使用校準(zhǔn)過程來校正目標(biāo)相對于定位設(shè)備的測量位置。此外，系統(tǒng)400可用于測試諸如上文所述的那些之類的定位系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。圖4a示出示例系統(tǒng)400的框圖。如圖4a所示，金屬目標(biāo)408被安裝在平臺406上，使得在位置定位系統(tǒng)410上方。定位器404能夠以精確的方式相對于位置定位系統(tǒng)410移動平臺406。如上所述，位置定位系統(tǒng)410包括形成在pcb上的發(fā)射線圈和接收線圈，并且可以包括控制器402，控制器402從接收線圈接收信號并處理該信號并驅(qū)動發(fā)射線圈。性能優(yōu)良傳感器線圈廠家拿貨價格

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