根據(jù)液晶元件的光學特性，即，根據(jù)液晶元件的顯示模型設(shè)計光 學補償薄片的光學特性。事實上，如果光學補償薄片是用液晶分子(特 別是盤形液晶分子)制成的話，可以根據(jù)液晶元件的顯示模型實現(xiàn)各 種光學特性。

在包括透明載體和其上安裝有由液晶分子形成的光學各向異性 層的光學補償薄片中，在載體和各向異性層之間提供有控制液晶分子 排列的取向?qū)?。作為透明載體，推薦使用纖維素酯薄膜。在制備光學 補償薄片時，蘇州軸角度測試儀技術(shù)指導，蘇州軸角度測試儀技術(shù)指導，必需在纖維素酯薄膜(透明載體)上緊密固定取向?qū)?通常

由聚乙烯醇制成的），蘇州軸角度測試儀技術(shù)指導。

偏光片吸收軸角度，偏振片偏振方向，波片快軸方向。蘇州軸角度測試儀技術(shù)指導

光學補償片，其包括：透明基質(zhì)；聚合物層，其通過涂布和干燥包含聚合化合物和具有20重量％ 或更多的水的溶劑組合物的溶液而在所述透明基質(zhì)上形成；和

光學各向異性層，其通過在離子輻射的照射下在薄膜表面溫度為 70-160 °C下固化包含至少一種液晶化合物的液晶層而在所述聚合物 層的表面上形成；

其中，所述光學各向異性層的正面延遲(Re)值不是0,并且利用 面內(nèi)慢軸作為傾斜軸(旋轉(zhuǎn)軸)，所述光學各向異性層對于波長為％nm 的分別來自相對于層平面的法線方向旋轉(zhuǎn)+40。和-40。的方向的光，具 有基本相同的延遲值。 蘇州智能軸角度測試儀高精度軸角度相位差透過率，色度(La、 b)，偏光度。

一般來說，光學薄膜的生產(chǎn)方式主要分為干法和濕法的生產(chǎn)工藝。所謂的干式就是沒有液體出現(xiàn)在整個加工過程中，例如真空蒸鍍是在真空環(huán)境中，以電能加熱固體原物料，經(jīng)升華成氣體后附著在一個固體基材的表面上，完成涂布加工。日常生活中所看到裝飾用的金色、銀色或具金屬質(zhì)感的包裝膜，就是以干式涂布方式制造的產(chǎn)品。但是在實際量產(chǎn)的考慮下，干式涂布運用的范圍小于濕式涂布。濕式涂布一般的做法是把具有各種功能的成分混合成液態(tài)涂料，以不同的加工方式涂布在基材上，然后使液態(tài)涂料干燥固化做成產(chǎn)品。在本文中*討論濕式涂布技術(shù)的光學薄膜產(chǎn)業(yè)。

 以PVA膜染色方法劃分，偏光片有碘染色法和染料染色法兩種工藝。碘染色法是指在偏光片染色、拉伸過程中，使用碘和碘化鉀作為二向性介質(zhì)使PVA膜產(chǎn)生極性化偏光特性。優(yōu)點是比較容易獲得99.9%以上的高偏光度和42%以上高透過率的偏光特性。所以在早期的偏光材料產(chǎn)品或需要高偏光、高透過特性的偏光材料產(chǎn)品中大多都采用碘染色工藝進行加工。但這種工藝的不足之處就是由于碘的分子結(jié)構(gòu)在高溫高濕的條件下易于破壞，因此使用碘染色工藝生產(chǎn)的偏光片耐久性較差，一般只能滿足干溫：80℃×500HR，濕熱：60℃×90%RH×500HR以下的工作條件使用。但隨著LCD產(chǎn)品范圍的擴大，對偏光產(chǎn)品的濕熱工作條件的要求越來越苛刻，已經(jīng)出現(xiàn)在100℃和90%RH條件下工作的偏光片需求。對這種要求，碘染色工藝就無能為力了。測量波段：550nm單波段可升級為380nm~780nm 上料方式：手動上料。

一種液晶顯示器，所述液晶顯示器具有兩個起偏振片和一個 位于這兩個起偏振片之間的液晶元件，其中所述起偏振片包括兩個透 明保護薄膜和一個位于這兩個保護薄膜之間的起偏振膜片，并且其中 位于液晶元件和起偏振膜片之間的這兩個保護薄膜中至少一個是一 光學補償薄片，所述光學補償薄片依次包括纖維素酯薄膜、取向?qū)雍?由液晶分子形成的光學各向異性層，所述液晶分子的排列經(jīng)固定，其 中將一堿性溶液涂布到纖維素酯薄膜的表面上以將該表面皂化，并且 其中皂化的表面涂布有取向?qū)拥耐坎家??？山馕龆鄬酉辔徊睿饕獪y試項目包括：吸收軸角度，偏光軸角度，相位差R0/Rth,透過率，色度，偏光度等。蘇州軸角度測試儀技術(shù)指導

精心打造的每一-臺設(shè)備出貨前都會用**計量標準片進行校驗。蘇州軸角度測試儀技術(shù)指導

光學各向異性纖維素酯薄膜推薦具有_50至50 ran,更推薦-20至 20 nm的Re延遲值。

各向異性纖維素酯薄膜的Rth延遲值推薦是60-1,000 nm。

平面內(nèi)的延遲值(Re)是平面內(nèi)的雙折射和薄膜厚度的乘積，并且 沿厚度的延遲值(Rth)是厚度方向的雙折射與薄膜厚度的乘積。具體的 Re值可以通過將入射光(例如，從He-Ne激光器[波長：632.8 nm]發(fā) 出的光線)垂直施加到薄膜表面上的測定獲得，并且具體的Rth值可 以通過入射光(例如，從He-Ne激光器[波長：632.8 nm]發(fā)出的光線) 傾斜施加到薄膜表面上的測定獲得。在該測定中，使用偏振光橢圓率 測量儀(例如，M-150, JASCO公司)獲得數(shù)據(jù)，然后外推得到這些延 遲值。

分別根據(jù)下式(1)和(2)計算平面內(nèi)(Re)和沿厚度(Rth)的延遲值。

(1) Re = (nx-ny) x d

(2) Rth = [{(nx+ny)/2}-nz] x d。

在這些式中，nx是沿薄膜平面的慢軸的折光率，ny是沿薄膜平 面的快軸的折光率，nz是薄膜厚度方向的折光率，并且d是以nm計 的薄膜厚度。 蘇州軸角度測試儀技術(shù)指導

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